Microscope à force atomique (AFM)

Le microscope à force atomique (AFM = Atomic Force Microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée. Ce mode d'observation permet alors de réaliser la cartographie locale des grandeurs physiques caractéristiques de l'objet sondé (force, capacité, intensité de rayonnement, courant...), mais également de travailler dans des environnements particuliers ( milieux sous vide, liquides ou ambiants).